6 Zoll 150 mm Silicon Carbide SiC Wafers 4H-N Typ fir MOS oder SBD Produktiounsfuerschung an Dummy Grad

Kuerz Beschreiwung:

De 6-Zoll Siliziumkarbid Eenkristallsubstrat ass e High-Performance-Material mat exzellente physikaleschen a chemeschen Eegeschaften.Hiergestallt aus héich Rengheet Silicium Carbide Eenkristallmaterial, et weist super thermesch Leit, mechanesch Stabilitéit, an héich-Temperatur Resistenz.Dëse Substrat, gemaach mat Präzisiounsproduktiounsprozesser a qualitativ héichwäerteg Materialien, ass de bevorzugt Material fir d'Fabrikatioun vun héicheffizienten elektroneschen Apparater a verschiddene Beräicher ginn.


Produit Detailer

Produit Tags

Applikatioun Felder

De 6-Zoll Siliziumkarbid Eenkristallsubstrat spillt eng entscheedend Roll a ville Industrien.Als éischt gëtt et vill an der Hallefleitindustrie benotzt fir d'Fabrikatioun vun héich-Muecht elektroneschen Apparater wéi Kraafttransistoren, integréierte Circuiten, a Kraaftmoduler.Seng héich thermesch Konduktivitéit an Héichtemperaturresistenz erméiglechen eng besser Hëtztofléisung, wat zu enger verbesserter Effizienz an Zouverlässegkeet resultéiert.Zweetens, Siliziumkarbidwafere si wesentlech a Fuerschungsberäicher fir d'Entwécklung vun neie Materialien an Apparater.Zousätzlech fënnt de Siliziumkarbidwafer extensiv Uwendungen am Beräich vun der Optoelektronik, dorënner d'Fabrikatioun vu LEDs a Laserdioden.

Produit Spezifikatioune

De 6-Zoll Siliziumkarbid Eenkristallsubstrat huet en Duerchmiesser vu 6 Zoll (ongeféier 152,4 mm).D'Uewerflächenrauheet ass Ra <0,5 nm, an d'Dicke ass 600 ± 25 μm.De Substrat kann mat entweder N-Typ oder P-Typ Konduktivitéit personaliséiert ginn, baséiert op Ufuerderunge vum Client.Ausserdeem weist et aussergewéinlech mechanesch Stabilitéit, fäeg Drock a Schwéngung ze widderstoen.

Duerchmiesser 150 ± 2,0 mm (6 Zoll)

Dicke

350 μm ± 25 μm

Orientéierung

Op der Achs: <0001>±0,5°

Off Achs: 4.0° Richtung 1120 ± 0.5°

Polytyp 4H

Resistivitéit (Ω·cm)

4H-N

0,015~0,028 Ω·cm/0,015~0,025ohm·cm

4/6H-SI

>1E5

Primär flaach Orientéierung

{10-10} ± 5,0°

Primär flaach Längt (mm)

47,5 mm ± 2,5 mm

Rand

Chamfer

TTV/Bow/Warp (um)

≤15 /≤40 /≤60

AFM Front (Si-Face)

Polnesch Ra≤1 nm

CMP Ra≤0,5 nm

LTV

≤3μm (10mm*10mm)

≤5μm (10mm*10mm)

≤10μm (10mm*10mm)

TTV

≤5 μm

≤10μm

≤15μm

Orangeschielen / Pits / Rëss / Kontaminatioun / Flecken / Sträifen

Keen Keen Keen

Abriecher

Keen Keen Keen

De 6-Zoll Siliziumkarbid Eenkristall Substrat ass e High-Performance-Material dat wäit an der Hallefleit, der Fuerschung an der Optoelektronikindustrie benotzt gëtt.Et bitt excellent thermesch Leit, mechanesch Stabilitéit, an héich-Temperatur Resistenz, mécht et gëeegent fir d'Fabrikatioun vun héich-Muecht elektronesch Apparater an nei Material Fuerschung.Mir bidden verschidde Spezifikatioune a Personnalisatiounsoptioune fir verschidde Clientsufuerderunge gerecht ze ginn.Kontaktéiert eis fir méi Detailer iwwer Siliziumkarbidwaferen!

Detailléiert Diagramm

WechatIMG569_ (1)
WechatIMG569_ (2)

  • virdrun:
  • Nächste:

  • Schreift Äre Message hei a schéckt en un eis