Siliziumkarbid Diamant Drot Schneidmaschinn 4/6/8/12 Zoll SiC Baren Veraarbechtung
Aarbechtsprinzip:
1. Barrenfixatioun: De SiC-Barr (4H/6H-SiC) gëtt iwwer d'Befestigung op der Schnëttplattform fixéiert, fir d'Positiounsgenauegkeet (±0,02 mm) ze garantéieren.
2. Diamantlinnbewegung: Diamantlinn (elektroplatéiert Diamantpartikelen op der Uewerfläch) gëtt vum Führradsystem fir eng héichgeschwindeg Zirkulatioun (Linngeschwindegkeet 10~30m/s) ugedriwwen.
3. Schneidzufuhr: De Barren gëtt an der festgeluechter Richtung gefüttert, an d'Diamantlinn gëtt gläichzäiteg mat verschiddene parallele Linnen (100~500 Linnen) geschnidden, fir verschidde Waferen ze bilden.
4. Ofkillung a Spanentfernung: Killmëttel (deioniséiert Waasser + Zousätz) an de Schnëttberäich sprëtzen, fir Hëtzeschued ze reduzéieren an d'Spanen ze entfernen.
Schlësselparameteren:
1. Schnëttgeschwindegkeet: 0,2~1,0 mm/min (ofhängeg vun der Kristallrichtung an der Déckt vum SiC).
2. Linnspannung: 20~50N (ze héich, liicht Linn ze briechen, ze niddreg beaflosst d'Schnëttgenauegkeet).
3. Waferdicke: Standard 350~500μm, Wafer kann 100μm erreechen.
Haaptmerkmale:
(1) Schnëttgenauegkeet
Décktoleranz: ±5μm (@350μm Wafer), besser wéi konventionellt Mörtelschneiden (±20μm).
Uewerflächenrauheet: Ra<0,5μm (kee zousätzlecht Schleifen néideg fir d'Quantitéit vun der spéiderer Veraarbechtung ze reduzéieren).
Verzerrung: <10μm (reduzéiert d'Schwieregkeet vum spéideren Polieren).
(2) Veraarbechtungseffizienz
Méifach Schnëtt: 100~500 Stéck gläichzäiteg schneiden, d'Produktiounskapazitéit 3~5 Mol erhéijen (am Verglach zum Schnëtt an enger eenzeger Linn).
Linnliewensdauer: D'Diamantlinn kann 100~300 km SiC schneiden (ofhängeg vun der Härte vum Barren an der Prozessoptimiséierung).
(3) Veraarbechtung mat geréngem Schued
Kantenbriechung: <15μm (traditionellt Schnëtt >50μm), verbessert d'Wafer-Ausbezuelung.
Ënnerierdesch Schuedschicht: <5μm (reduzéiert d'Polierentfernung).
(4) Ëmweltschutz a Wirtschaft
Keng Mörtelkontaminatioun: Reduzéiert Käschte fir d'Entsuergung vu Flëssegkeetsoffäll am Verglach zum Mörtelschneiden.
Materialnutzung: Schnëttverloscht <100μm/Schneider, Spuerung vu SiC-Rohmaterialien.
Schneideffekt:
1. Waferqualitéit: keng makroskopesch Rëss op der Uewerfläch, wéineg mikroskopesch Defekter (kontrolléierbar Verrécklungsausdehnung). Kann direkt an d'Groufpoléierungslänk agoen, de Prozessoflaf verkierzen.
2. Konsistenz: d'Décktofwäichung vum Wafer am Charge ass <±3%, gëeegent fir automatiséiert Produktioun.
3. Anwendbarkeet: Ënnerstëtzung vum 4H/6H-SiC-Barrenschneiden, kompatibel mat leitfäegem/hallefisoléierten Typ.
Technesch Spezifikatioun:
Spezifikatioun | Detailer |
Dimensiounen (L × B × H) | 2500x2300x2500 oder personaliséiert |
Gréisstberäich fir d'Veraarbechtung vu Materialien | 4, 6, 8, 10, 12 Zoll Siliziumkarbid |
Uewerflächenrauheet | Ra≤0,3u |
Duerchschnëttlech Schnëttgeschwindegkeet | 0,3 mm/Minutt |
Gewiicht | 5,5t |
Schrëtt fir d'Astellung vum Schnëttprozess | ≤30 Schrëtt |
Geräischer vun der Ausrüstung | ≤80 dB |
Spannung vu Stoldrot | 0~110N (0,25 Drotspannung ass 45N) |
Stol Drot Vitesse | 0~30m/S |
Gesamtleistung | 50 kW |
Duerchmiesser vum Diamantdrot | ≥0,18 mm |
Ennflächlechkeet | ≤0,05 mm |
Schnëtt- a Brochquote | ≤1% (ausser mënschlech Grënn, Siliziummaterial, Leitung, Ënnerhalt an aner Grënn) |
XKH Servicer:
XKH bitt de ganze Prozessservice fir Siliziumkarbid-Diamantdrotschneidmaschinnen, inklusiv Auswiel vun der Ausrüstung (Drotduerchmiesser/Drotgeschwindegkeetsanpassung), Prozessentwécklung (Optimiséierung vu Schnëttparameteren), Verbrauchsmaterialliwwerung (Diamantdrot, Führrad) an After-Sales-Support (Ausrüstungsënnerhalt, Analyse vu Schnëttqualitéit), fir de Clienten ze hëllefen, eng héich Ausbezuelung (>95%) a käschtegënschteg Masseproduktioun vu SiC-Wafers z'erreechen. Et bitt och personaliséiert Upgrades (wéi ultradënn Schnëtt, automatiséiert Belueden an Entlueden) mat enger Liwwerzäit vun 4-8 Wochen.
Detailéiert Diagramm


