Wafersubstrate als Schlësselmaterialien an Hallefleiterkomponenten
Wafersubstrate sinn déi physikalesch Träger vun Hallefleiterkomponenten, an hir Materialeegeschafte bestëmmen direkt d'Leeschtung, d'Käschten an d'Uwendungsfelder vun den Apparater. Hei sinn déi Haaptzorte vu Wafersubstrate zesumme mat hire Vir- an Nodeeler:
-
Maartundeel:Maacht méi wéi 95% vum weltwäite Hallefleedermaart aus.
-
Virdeeler:
-
Niddreg Käschten:Räichlech Réistoffer (Siliziumdioxid), ausgereift Produktiounsprozesser a staark Skalenwirtschaften.
-
Héich Prozesskompatibilitéit:D'CMOS-Technologie ass héich entwéckelt a ënnerstëtzt fortgeschratt Knuet (z.B. 3nm).
-
Excellent Kristallqualitéit:Wafere mat groussen Duerchmiesser (haaptsächlech 12 Zoll, 18 Zoll an der Entwécklung) mat enger gerénger Defektdicht kënne gezücht ginn.
-
Stabil mechanesch Eegeschaften:Einfach ze schneiden, ze poléieren an ze handhaben.
-
-
Nodeeler:
-
Schmuel Bandlück (1,12 eV):Héije Leckstroum bei erhéichten Temperaturen, limitéiert d'Effizienz vun den Energieversuergungsapparater.
-
Indirekt Bandlück:Ganz niddreg Liichtemissiounseffizienz, net gëeegent fir optoelektronesch Apparater wéi LEDs a Laser.
-
Limitéiert Elektronemobilitéit:Schlechter Héichfrequenzleistung am Verglach mat Compound-Halbleiter.

-
-
Uwendungen:Héichfrequent-HF-Geräter (5G/6G), optoelektronesch Apparater (Laseren, Solarzellen).
-
Virdeeler:
-
Héich Elektronemobilitéit (5–6× déi vu Silizium):Gëeegent fir Héichgeschwindegkeets- an Héichfrequenzapplikatiounen, wéi z. B. Millimeterwellekommunikatioun.
-
Direkt Bandlück (1,42 eV):Héicheffizient photoelektresch Konversioun, d'Grondlag vun Infraroutlaseren an LEDs.
-
Héich Temperatur- a Stralungsbeständegkeet:Gëeegent fir Loftfaart a rauh Ëmfeld.
-
-
Nodeeler:
-
Héich Käschten:Knappt Material, schwéiert Kristallwuesstum (ufälleg fir Verrécklungen), limitéiert Wafergréisst (haaptsächlech 6 Zoll).
-
Sprécheg Mechanik:Ufälleg fir Broch, wat zu engem niddrege Veraarbechtungsertrag féiert.
-
Toxizitéit:Arsen erfuerdert streng Behandlung a Ëmweltkontrollen.
-
3. Siliziumkarbid (SiC)
-
Uwendungen:Héichtemperatur- a Héichspannungsstroumgeräter (EV-Inverter, Ladestatiounen), Loftfaart.
-
Virdeeler:
-
Breet Bandlück (3,26 eV):Héich Duerchbrochfestigkeit (10x déi vu Silizium), Héichtemperaturtoleranz (Betribstemperatur >200 °C).
-
Héich thermesch Konduktivitéit (≈3× Silizium):Excellent Wärmeofleedung, wat eng méi héich Systemleistungsdicht erméiglecht.
-
Niddreg Schaltverloscht:Verbessert d'Effizienz vun der Energiekonversioun.
-
-
Nodeeler:
-
Usprochsvoll Substratvirbereedung:Lues Kristallwuesstum (>1 Woch), schwiereg Defektkontroll (Mikropipen, Dislokatiounen), extrem héich Käschten (5–10× Silizium).
-
Kleng Wafergréisst:Haaptsächlech 4–6 Zoll; 8-Zoll nach an der Entwécklung.
-
Schwiereg ze veraarbechten:Ganz haart (Mohs 9,5), wouduerch Schnëtt a Polieren zäitopwänneg ass.
-
4. Galliumnitrid (GaN)
-
Uwendungen:Héichfrequent-Stroumversuergungsapparater (Schnellladung, 5G-Basisstatiounen), blo LEDs/Laseren.
-
Virdeeler:
-
Ultrahéich Elektronemobilitéit + grouss Bandlück (3,4 eV):Kombinéiert Héichfrequenz- (>100 GHz) an Héichspannungsleistung.
-
Niddreg On-Resistenz:Reduzéiert de Stroumverloscht vum Apparat.
-
Kompatibel mat Heteroepitaxie:Dacks op Silizium-, Saphir- oder SiC-Substrater ugebaut, wat Käschte reduzéiert.
-
-
Nodeeler:
-
Schwiereg Wuesstem vun eenzele Kristaller am Groussen a Ganzen:Heteroepitaxie ass Mainstream, awer Gittermismatch bréngt Defekter mat sech.
-
Héich Käschten:Native GaN-Substrater si ganz deier (e 2-Zoll-Wafer kann e puer dausend USD kaschten).
-
Zouverlässegkeets-Erausfuerderungen:Phenomener wéi den Zesummebroch vun der aktueller Situatioun erfuerderen Optimiséierung.
-
5. Indiumphosphid (InP)
-
Uwendungen:Héichgeschwindeg optesch Kommunikatioun (Laseren, Photodetekteren), Terahertz-Geräter.
-
Virdeeler:
-
Ultrahéich Elektronemobilitéit:Ënnerstëtzt e Betrib vun iwwer 100 GHz, wat GaAs iwwertrëfft.
-
Direkt Bandlück mat Wellelängtenanpassung:Kärmaterial fir 1,3–1,55 μm Glasfaserkommunikatioun.
-
-
Nodeeler:
-
Brécheg a ganz deier:D'Substratkäschte si méi wéi 100× Silizium, limitéiert Wafergréissten (4–6 Zoll).
-
6. Saphir (Al₂O₃)
-
Uwendungen:LED-Beliichtung (GaN epitaxial Substrat), Deckglas fir Konsumentelektronik.
-
Virdeeler:
-
Niddreg Käschten:Vill méi bëlleg wéi SiC/GaN-Substrater.
-
Excellent chemesch Stabilitéit:Korrosiounsbeständeg, héich isoléierend.
-
Transparenz:Gëeegent fir vertikal LED-Strukturen.
-
-
Nodeeler:
-
Grouss Gitterfehler mat GaN (>13%):Verursaacht eng héich Defektdicht, erfuerdert Pufferschichten.
-
Schlecht Wärmeleitfäegkeet (~1/20 vu Silizium):Limitéiert d'Leeschtung vun Héichleistungs-LEDs.
-
7. Keramiksubstrater (AlN, BeO, etc.)
-
Uwendungen:Hëtzeverdeeler fir Héichleistungsmoduler.
-
Virdeeler:
-
Isolatioun + héich Wärmeleitfäegkeet (AlN: 170–230 W/m·K):Gëeegent fir Verpackungen mat héijer Dicht.
-
-
Nodeeler:
-
Net-Eenzelkristall:Kann d'Wuesstum vun Apparater net direkt ënnerstëtzen, gëtt nëmmen als Verpackungssubstrat benotzt.
-
8. Spezial Substrater
-
SOI (Silizium op Isolator):
-
Struktur:Silizium/SiO₂/Silizium Sandwich.
-
Virdeeler:Reduzéiert parasitär Kapazitéit, strahlungsgehärtet, Leckageënnerdréckung (benotzt an RF, MEMS).
-
Nodeeler:30–50% méi deier wéi Silizium am Groussen a Ganzen.
-
-
Quarz (SiO₂):Benotzt a Photomasken a MEMS; héichtemperaturbeständeg awer ganz brécheg.
-
Diamant:Substrat mat der héchster Wärmeleitfäegkeet (>2000 W/m·K), ënner Fuerschung an Entwécklung fir extrem Hëtztofleedung.
Vergläichend Zesummefassungstabell
| Substrat | Bandlück (eV) | Elektronemobilitéit (cm²/V·s) | Wärmeleitfäegkeet (W/m·K) | Haaptwafergréisst | Kärapplikatiounen | Käschten |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Si | 1.12 | ~1.500 | ~150 | 12-Zoll | Logik- / Speicherchips | Niddregsten |
| GaAs | 1,42 | ~8.500 | ~55 | 4–6 Zoll | RF / Optoelektronik | Héich |
| SiC | 3.26 | ~900 | ~490 | 6-Zoll (8-Zoll Fuerschung an Entwécklung) | Stroumgeräter / Elektroautoen | Ganz héich |
| GaN | 3.4 | ~2.000 | ~130–170 | 4–6 Zoll (Heteroepitaxie) | Schnellladung / RF / LEDs | Héich (Heteroepitaxie: mëttel) |
| InP | 1,35 | ~5.400 | ~70 | 4–6 Zoll | Optesch Kommunikatioun / THz | Extrem héich |
| Saphir | 9,9 (Isolator) | – | ~40 | 4–8 Zoll | LED-Substrater | Niddreg |
Schlësselfaktoren fir d'Substratauswiel
-
Leeschtungsufuerderungen:GaAs/InP fir Héichfrequenz; SiC fir Héichspannung, Héichtemperatur; GaAs/InP/GaN fir Optoelektronik.
-
Käschtebeschränkungen:Konsumentelektronik favoriséiert Silizium; High-End-Beräicher kënnen SiC/GaN-Prämië rechtfertegen.
-
Integratiounskomplexitéit:Silizium bleift onverzichtbar fir CMOS-Kompatibilitéit.
-
Thermesch Gestioun:Héichleistungsapplikatioune léiwer SiC oder GaN op Diamantbasis.
-
Reife vun der Liwwerungskette:Si > Saphir > GaAs > SiC > GaN > InP.
Zukunftstrend
Heterogen Integratioun (z.B. GaN-op-Si, GaN-op-SiC) wäert Leeschtung a Käschten ausbalancéieren a Fortschrëtter am 5G, Elektroautoen a Quantecomputer förderen.
Zäitpunkt vun der Verëffentlechung: 21. August 2025






